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    多导毛细聚焦XRF XAD-u

    所属分类:膜厚仪镀层测厚仪
    产品概述:全新上照式设计,采用国内首创、多导毛细聚焦X射线光学系统搭配自主研发的EFP算法和高灵敏度X射线检测系统光東尺寸最小可达5微米半高宽,对微电子设备、高级电路板、晶圆微区的镀层厚度和成分自动测试分析中尽显优势,测量精度达纳米级,同时高计数率保证镀层或含量测试结…
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